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半导体存储器件测试

MEMS探针卡

功能介绍

主要用晶圆测试时实现测试机与被测裸片的电气联接，通过传输信号对芯片参数进行测试。

产品介绍

主要用于晶圆测试时实现测试机与被测裸片的电气联接，通过传输信号对芯片参数进行测试。

0755-21058357

地址：深圳市龙华区龙华街道清宁路富安娜工业园D栋1楼

Email：jzd@xumengys.com

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